压电力显微镜（PiezoresponseForceMicroscopy,PFM）是原子力显微镜（AtomicForceMicroscope,AFM）的一种重要衍生技术，主要用于表征压电材料、铁电材料和多铁性材料的表面形貌、畴结构、极化取向及电学性能。接下来我们将带您深入剖析PFM的基本原理、工作模式、关键参数及应用案例

在文章《光学-原子力联用系统在二维材料研究中的应用初探》中，我们展示了富睿思桌面型超薄测头原子力显微镜AFM-Piccolo和反射差分光谱显微镜（RDM）在二维材料研究中的初步联用效果，本文将呈现基于该系统获得的一组有趣数据。多种二维材料的堆叠是构建器件的典型方式。本次实验中我们通过数次干法转移在镀有金膜的二氧化硅衬底

自石墨烯问世以来，二维材料研究热已持续了超过二十年。这类厚度只有一个或几个原子层的超薄晶体（广义上也包含多层叠堆形成的纳米片）因其厚度尺寸带来的量子限域效应，具有显著区别于块体材料的奇特理化性质，被普遍认为将在下一代微电子器件、储能、柔性显示与传感等领域扮演关键角色。近年来，学术界对二维材料的关注点主要聚焦于大面积低缺

AFM-WLIDuet是富睿思桌面型超薄测头原子力显微镜AFM-Piccolo与白光轮廓仪WLI-Marimba（Linnik型）的同轴集成系统。AFM-Piccolo的测头设计独具匠心，其有效厚度小于8mm，加上底座部分其厚度小于10cm，非常便于与包括白光轮廓仪（WLI）在内的其它设备进行联用。WLI-Marimb

碳化硅（SiliconCarbide，SiC）是一种宽禁带半导体材料，因其优越的物理和电学特性，在现代半导体产业中扮演着越来越重要的角色，特别是应用在高压、高频、高温、高功率等极端环境下的电子器件中。同时，由于SiC材料和器件表面形貌、晶体质量、粗糙度等参数对其性能有显著影响，原子力显微镜（AFM）作为纳米级表面分析工

LTPS（LowTemperaturePolycrystallineSilicon，低温多晶硅）是一种用于制造薄膜晶体管（TFT）的技术，广泛应用于现代显示面板行业，特别是在高端中小尺寸显示器件中，如智能手机、平板电脑、车载显示器、高端笔记本电脑以及新兴的柔性显示和AMOLED屏幕中。原子力显微镜（AFM）在LTPS技

二维材料（2DMaterials）作为21世纪材料科学的重要突破之一，以其独特的结构和优异的性能，在电子、能源、传感、光电子、医疗、环境等领域展现出革命性的应用潜力。尽管目前仍面临制备、稳定性、集成等多方面的挑战，但随着技术的不断进步和研究的深入，二维材料有望在未来几十年内推动多个行业的技术革新，成为构建下一代智能、柔