富睿思×SEMICON JAPAN：现场解锁原子力显微镜在半导体行业的创新应用

SEMICON JAPAN正在东京盛大举办，富睿思诚邀您莅临⛳S2608展位，与现场技术专家面对面交流前沿量测技术，共同探讨原子力显微镜（AFM）在半导体先进制程中的创新应用。

在本次展会上，我们将重点展示两大核心解决方案：

🔬 AFM-Baritone 200毫米机台原子力显微镜（AFM）‍——面向科研和高端工业用户开发的一款大机台原子力显微镜，配备200毫米全自动样品台，可用于8英寸以内各种规格晶圆及其他样品的形貌和物性检测。

💡 AFM-Piccolo 桌面型超薄测头原子力显微镜（AFM）——专为科研用户开发的桌面型原子力显微镜，配备超薄光杠杆式测头，探针上方和前侧空间完全开放，特别适合与各类高分辨光学显微系统原位集成联用。

富睿思原子力显微镜（AFM）在晶圆表面粗糙度、原子台阶及表面结构的测量等方面表现卓越，能够为先进制程的工艺改进和质量控制提供可靠的量测解决方案。

🌍 展会官网：https://www.semiconjapan.org/en

⏰ 展会时间：2025年12月17日-19日

📍 展位场馆：Tokyo Big Sight

🚀 展位号：S2608

🌍 资料获取：点击富睿思官网获取产品手册（http://en.frsinst.com/download/）或在现场领取纸质版材料

我们期待在东京与您相聚，携手探索原子力显微镜（AFM）在半导体行业的最新应用与发展方向。