半导体
在半导体领域从基础研究到工业应用有着关键作用
WLI-Marimba系列采用VLSI公司所提供的9.5 nm高度标准台阶进行精度标定,具备较高的测量精度、较低的测量噪声水平和较高的测量重复性。
结构设计紧凑,占用空间小,真正的桌上型设备
轻量化设计,整机仅20 kg,移动方便❶
100 μm垂直扫描范围,满足大部分应用需求
支持模块化选择,具备良好的功能扩展,实现最优的测量配置❷
❶标准配置条件下测头自重(不含控制器)
❷支持选配镜头、相机、GPU、扫描器

测量与分析操作一体化设计,同时兼容压电陶瓷与步进电机扫描器(可选)控制,具备丰富的可扩展功能,实现高精度的快速测量需求。
