原子力显微镜（AFM）不仅能够提供薄膜表面形貌的高清图像和薄膜台阶高度、粗糙度等信息，还能深入分析其力学、电学、摩擦学等性能，为薄膜材料的设计、优化和应用提供了强有力的技术支撑。